搜索關(guān)鍵詞:IP防護等級試具,IP防水防塵試驗設(shè)備,晶振測試儀
簡要描述:CX-118A型晶振測試儀使用微處理器技術(shù),實現(xiàn)了智能化測量。本系列儀器采用倒數(shù)計數(shù)技術(shù)實現(xiàn)等精度測量。它測量精度,靈敏度,速度快,閘門時間可選;具有頻率測量、周期測量、PPM 測量、分檔測量、上下限測量、累加計數(shù)等功能;中心頻率(標稱頻率)F0、分檔值Pr1~Pr8(ppm) 、上限頻率FU、下限頻率FL 可任意設(shè)定并能存儲。該機前置電路有低通濾波器、衰減器等。適合晶體行業(yè)、郵電、通信、廣播電視
品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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應用領(lǐng)域 | 電子,電氣,綜合 |
CX-118A型晶振測試儀
1.概述
CX-118A型晶振測試儀使用微處理器技術(shù),實現(xiàn)了智能化測量。本系列儀器采用倒數(shù)計數(shù)技術(shù)實現(xiàn)等精度測量。它測量精度,靈敏度,速度快,閘門時間可選;具有頻率測量、周期測量、PPM 測量、分檔測量、上下限測量、累加計數(shù)等功能;中心頻率(標稱頻率)F0、分檔值Pr1~Pr8(ppm) 、上限頻率FU、下限頻率FL 可任意設(shè)定并能存儲。該機前置電路有低通濾波器、衰減器等。適合晶體行業(yè)、郵電、通信、廣播電視、學校、研究所及工礦企業(yè)的生產(chǎn)和科研之用。
2.主要特征
2.1本機采用倒數(shù)計數(shù)技術(shù),測量精度,測量范圍寬,真正實現(xiàn)等精度測量,測量速度快,靈敏度。
2.2采用單片微機技術(shù)進行周期頻率測量和智能化管理,使得儀器具有很的可靠性和優(yōu)良的性能/價格比。
2.3整機采用大規(guī)模集成電路設(shè)計,CPLD器件的運用,使儀器元器件大為減少,可靠性有了提高,平均工作時間≥10000h。
整機外型美觀大方,體積小,重量輕,使用方便。
3.CX-118A型晶振測試儀技術(shù)參數(shù)
3.1 測量范圍
· 頻率測量:A 通道:1Hz~100MHz;
B 通道:100MHz~1.6GHz(選件)
· 周期測量:A 通道:10ns~1s
· PPM測量:-9999~9999ppm
· 上、下限測量:可根據(jù)用戶所設(shè)定的上限參數(shù)FU、下限參數(shù)FL 來測量被測頻率是否超出上、下限,超限則報警。
· 分檔測量:根據(jù)用戶所設(shè)定的中心頻率F0 自動進行分檔測量。分檔值:Pr1~Pr8 可在 1~999ppm之間任意設(shè)置
分檔檔數(shù):以中心頻率F0 為中點左右分成16 檔
累加計數(shù):計數(shù)容量:0~109-1 (選件)
計數(shù)方式:鍵控、門控或外門控可選。
3.2 輸入特性
· 輸入阻抗:A 通道: 1M"http://40pF B通道: 50"
3.2.2輸入耦合方式:AC 3.2.3波形適應性:正弦波、脈沖波
· 輸入電壓動態(tài)范圍:
A通道:30mVrms~250Vp~p
B通道: 30mVrms~1Vrms
3.2.5 A通道低通濾波器:-3dB帶寬約 100kHz
3.2.6 A通道衰減:×1或×20
3.3測量誤差
3.3.1頻率或周期測量誤差:±時基誤差±觸發(fā)誤差±LSD
100ns
其中:LSD=─────×被測頻率(或被測周期)
閘門時間
觸發(fā):當被測信號的信噪比為40dB 時,觸發(fā)≤0.3%
PPM測量:±時基誤差±觸發(fā)誤差±LSD
其中:LSD=(100ns/閘門時間)×106ppm
例如:閘門時間=1s 時LSD=0.1ppm
閘門時間=0.1s 時LSD=1ppm
3.3.3計數(shù)誤差:±1
3.4閘門時間
固定閘門:10ms、100ms、1s、10s 四檔可選;
可調(diào)閘門:50ms~95ms 分10 檔,每檔間隔5ms。
3.5晶體振蕩器
標稱頻率:10MHz
頻率穩(wěn)定度:5×10-6/d
(可根據(jù)用戶需求,選配更高量級的晶振。
如:1×10-6/d、5×10-7/d、1×10-7/d 等)。
3.6外頻標輸入
輸入頻率:10MHz
輸入幅度:>1Vp~p 正弦波
3.7顯示
13位 0.4吋綠色高亮數(shù)碼管,三個單位 LED指示燈(MHz、kHz、Hz),一個閘門LED 指示燈(GATE),一個外頻標LED 指示燈(EXT)和一個PPM 單位指示燈(PPM)。
3.8電源
電壓:交流220V±10%
頻率:50Hz±5%
功耗:<8VA
3.9 外形尺寸:230×250×90(mm)
3.10 質(zhì)量:<1.5kg
晶振測試盒選配:
晶體測量匹配器:
1Hz-20MHz(標配)
20MHz-40MHz ,
40MHz-65MHz
65MHz-100MHz .
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